|
|
| METL5180 | Yüzey Analiz Teknikleri | 3+0+0 | AKTS:7.5 | | Yıl / Yarıyıl | Güz Dönemi | | Ders Duzeyi | Yüksek Lisans(Tezli) | | Yazılım Şekli | Seçmeli | | Bölümü | METALURJİ ve MALZEME MÜHENDİSLİĞİ ANABİLİM DALI | | Ön Koşul | Yok | | Eğitim Sistemi | Yüz yüze | | Dersin Süresi | 14 hafta - haftada 3 saat teorik | | Öğretim Üyesi | Prof. Dr. Ümit ALVER | | Diğer Öğretim Üyesi | | | Öğretim Dili | Türkçe | | Staj | Yok | | | | Dersin Amacı: | | Yüzey analiz teknikleri hakkında öğrencilere bilgi vermek |
| Öğrenim Kazanımları | PÖKK | ÖY | | Bu dersi başarı ile tamamlayan öğrenciler : | | | | ÖK - 1 : | Yüzey analiz teknikleri ile ilgili temel kavramları ögrenecek | 1,5 | 1,3 | | ÖK - 2 : | Vakum teknolojilerini öğrenecek | 1,5 | 1,3 | | ÖK - 3 : | Yüzey analiz tekniklerinden spektroskopik yöntemleri öğrenip ve yorumlayabilecek | 1,5 | 1,3 | | ÖK - 4 : | Yüzey analiz tekniklerinden mikroskopik yöntemleri öğrenip ve yorumlayabilecek | 1,5 | 1,3 | | PÖKK :Program öğrenim kazanımlarına katkı, ÖY : Ölçme ve değerlendirme yöntemi (1: Yazılı Sınav, 2: Sözlü Sınav, 3: Ev Ödevi, 4: Laboratuvar Çalışması/Sınavı, 5: Seminer / Sunum, 6: Dönem Ödevi / Proje),ÖK : Öğrenim Kazanımı | | |
| Yüzey analizleri tanımı. Yüzey biliminde vakum teknolojisi. Auger elektron spektroskopisi tanımı ve temelleri. İkincil iyon kütle spektroskopisi (SIMS)- yüzey kütle spektroskopisi. Taramalı elektron mikroskobunun (SEM) yüzey analizlerinde kullanımı. X-ışını fotoelektron spektroskopisinin (XPS) çalışma prensipleri ve uygulama alanları. Taramalı tünelleme mikroskobuna giriş (STM) Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) çalışma prensibi. Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) uygulama alanları. Infrared spektroskobisinin yüzey analizlerinde kullanımı. Raman spektroskobisi ve uygulamaları. |
| |
| Haftalık Detaylı Ders Planı | | Hafta | Detaylı İçerik | Önerilen Kaynak | | Hafta 1 | Temel kavramlara giriş | | | Hafta 2 | Yüzey analizleri tanımı ve teknikler | | | Hafta 3 | Yüzey biliminde vakum teknolojisi | | | Hafta 4 | Auger elektron spektroskopisi (AES) | | | Hafta 5 | İkincil iyon kütle spektroskopisi (SIMS) | | | Hafta 6 | I. ARASINAV | | | Hafta 7 | X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS) | | | Hafta 8 | Taramalı elektron mikroskobu (SEM) | | | Hafta 9 | Taramalı elektron mikroskobu (SEM) uygulaması | | | Hafta 10 | Taramalı tünelleme mikroskobu(STM) | | | Hafta 11 | Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) | | | Hafta 12 | II. ARASINAV | | | Hafta 13 | Infrared spektroskobisi (FTIR) | | | Hafta 14 | Raman Spektroskopisi | | | Hafta 15 | Genel Tekrar | | | Hafta 16 | Final Sınavı | | | |
| 1 | John C. Vickerman, Surface Analysis; The Principal Techniques, (2nd Edition) Wiley 2009 | | | |
| 1 | P E J Flewitt , R K Wild, Physical Methods for Materials Characterisation, IOP, 2003 | | | 2 | Gernot Friedbacher and Henning Bubert, Surface and Thin Film Analysis, Wiley,2011 | | | |
| Ölçme Yöntemi | | Yöntem | Hafta | Tarih | Süre (Saat) | Katkı (%) | | Arasınav | 6,12 | | 2 | 30 | | Ödev | 3,5,7,9,13 | | | 20 | | Dönem sonu sınavı | 16 | | 2 | 50 | | |
| Öğrenci Çalışma Yükü | | İşlem adı | Haftalık süre (saat) | Hafta sayısı | Dönem toplamı | | Yüz yüze eğitim | 3 | 14 | 42 | | Sınıf dışı çalışma | 5 | 14 | 70 | | Laboratuar çalışması | 0 | 0 | 0 | | Arasınav için hazırlık | 5 | 7 | 35 | | Arasınav | 2 | 1 | 2 | | Uygulama | 0 | 0 | 0 | | Klinik Uygulama | 0 | 0 | 0 | | Ödev | 5 | 5 | 25 | | Proje | 0 | 0 | 0 | | Kısa sınav | 0 | 0 | 0 | | Dönem sonu sınavı için hazırlık | 5 | 7 | 35 | | Dönem sonu sınavı | 2 | 1 | 2 | | Diğer 1 | 0 | 0 | 0 | | Diğer 2 | 0 | 0 | 0 | | Toplam Çalışma Yükü | | | 211 |
|