|
|
| METL5051 | Malzeme Karakterizas.Yeni Yöntemler | 3+0+0 | AKTS:7.5 | | Yıl / Yarıyıl | Bahar Dönemi | | Ders Duzeyi | Yüksek Lisans(Tezli) | | Yazılım Şekli | Seçmeli | | Bölümü | METALURJİ ve MALZEME MÜHENDİSLİĞİ ANABİLİM DALI | | Ön Koşul | Yok | | Eğitim Sistemi | | | Dersin Süresi | 14 hafta - haftada 3 saat teorik | | Öğretim Üyesi | Prof. Dr. Aykut ÇANAKÇI | | Diğer Öğretim Üyesi | | | Öğretim Dili | Türkçe | | Staj | Yok | | | | Dersin Amacı: | |
| Öğrenim Kazanımları | PÖKK | ÖY | | Bu dersi başarı ile tamamlayan öğrenciler : | | | | ÖK - 1 : | Farklı tipten ışık mikroskoplarını tanıma, bazı mühendislik malzemelerin mikro yapılarının belirlenmesi için ışık mikroskop ve görüntü analizinin yöntemine numuneler hazırlayabilecek. | 1,4,6 | 1,3,5, | | ÖK - 2 : | Taramalı elektron mikroskoplarının çeşitli tiplerini, fonksiyonunu, cihazı ve SEM'lerin elektron numune arası etkileşimi anlayacaklar. | 1,4,6 | 1,3,5 | | ÖK - 3 : | X-ışını haritası ve EDS X-ışını analizi yönteminiyle yapılan yüzey kimyasal analizini anlayacak ve yapacaklar. | 1,4,6 | 1,3,5 | | PÖKK :Program öğrenim kazanımlarına katkı, ÖY : Ölçme ve değerlendirme yöntemi (1: Yazılı Sınav, 2: Sözlü Sınav, 3: Ev Ödevi, 4: Laboratuvar Çalışması/Sınavı, 5: Seminer / Sunum, 6: Dönem Ödevi / Proje),ÖK : Öğrenim Kazanımı | | |
| Haftalık Detaylı Ders Planı | | Hafta | Detaylı İçerik | Önerilen Kaynak | | Hafta 1 | a) Malzeme karakterizasyon yöntemleri hakkında genel bilgi
b) Analiz yöntemi seçilirken dikkat edilmesi gereken hususlar
| | | Hafta 2 | X-Işınlarının Özellikleri
a) Elektromanyetik spektrum
b) X-ışınlarının oluşumu
c) Sürekli spektrum
d) Karakteristik spektrum
e) Moosley ilişkisi
f) Soğurma
g) X-ışınlarının filtrelenmesi
| | | Hafta 3 | Kristallerin Geometrisi
a) Kafes yapılar
b) Doğrultular
c) Düzlemler
| | | Hafta 4 | d) Düzlemlerarası mesafe
e) Kafes pozisyonları
f) Kristal yapılar
g) Arayer pozisyonları
| | | Hafta 5 | Kırınım
a) Faz durumu
b) Bragg bağıntısı
c) Kırınım deseni
d) İdeal olmayan durumlarda kırınım
e) Bir tek atomdan saçınım
f) Saçınım faktörü
g) Birim hücreden saçınım
h) Yapı faktörü
i) Yapı faktörü hesaplamaları
j) Çarpım etkisi
| | | Hafta 6 | Deneysel Yöntemler
a) Numune tipleri ve dikkat edilmesi gereken hususlar
b) X-ışınları kırınımı cihazının çalışma prensibinin anlatılması ve deney prosedürünün
uygulamalı olarak gösterilmesi
c) Deney sonuçlarının yorumlanması
d) Hanavalt metodu
e) Örnek problem çözümleri
| | | Hafta 7 | Mikroskobi Yöntemleri
a) Mikroskopların karşılaştırılması
b) Ayırma gücü
c) Işık elektron karşılaştırması
d) Optik mikroskop
e) İnce kenarlı mercekler
f) Yakın görüş mesafesi
g) Optik mikroskopta görüntü oluşumu
| | | Hafta 8 | Arasınav | | | Hafta 9 | Taramalı Elektron Mikroskobu
a) Kullanım alanları
b) Avantajları ve dezavantajları
c) Mikroskop kolonu
d) Elektron tabancaları
e) Elektron numune etkileşimi
f) İkincil elektron modu
g) Gerisaçılım modu
h) Büyütme oranı
i) EDS analizi
j) WDS analizi
k) EDS-WDS karşılaştırılması
| | | Hafta 10 | X-Işınları Florösans Analizi, Auger Spektroskopisi ve Geçirimli elektron mikroskobu
a) X-ışınları florösans yöntemi ile kimyasal analiz
b) Uygulama alanları
c) EDS-XRF karşılaştırması
d) Auger proses
e) Auger spektrumu
f) Uygulama alanları
g) Geçirimli elektron mikroskobu kolonu
h) Aydınlık alan görüntüsü
i) Elektron enerji kaybı (EELS) görüntüsü
j) Yüksek çözünürlüklü geçirimli elektron mikroskobu(HREM)
k) Geçirimli elektron mikroskobu-taramalı elektron mikroskobu kıyaslaması
| | | Hafta 11 | Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ve Taramalı Tünel Mikroskobu (STEM)
a) Atomik kuvvet mikroskobu
b) Temas modu
c) Uygulama alanları
d) Taramalı tünel mikroskobu
e) Çalışma prensibi
f) Kullanım alanları
g) AFM-STM karşılaştırması
| | | Hafta 12 | Termal Analiz Yöntemleri
a) Diferansiyel Termal Analizör (DTA)
b) DTA?nın kullanım alanları ve bazı örnekler
c) Diferansiyel Taramalı Kalorimetre (DSC)
d) DSC'nin kullanım alanları ve bazı örnekler
e) Dilatometre
| | | Hafta 13 | Numune Hazırlama
a) Numune kesme ve kalıba alma
b) Zımparalama
c) Parlatma
d) Dağlama
| | | Hafta 14 | Mikroyapının Kantitatif Analizi
a) Tane boyutu ölçümü
b) Tane boyut dağılımının belirlenmesi
c) Fazların hacim oranlarının belirlenmesi
| | | Hafta 15 | Mikroyapının Kantitatif Analizi
a) Tane boyutu ölçümü
b) Tane boyut dağılımının belirlenmesi
c) Fazların hacim oranlarının belirlenmesi | | | Hafta 16 | Dönem sonu sınavı | | | |
| 1 | Edited by Brundle C.B., Evans C.A., Jr, and Wilson S. 1992; Encyclopedia of Materials Characterization, , Butterworth-Heinemann. | | | 2 | Voort , G. F. V. 1984; Metallography, McGraw-Hill. | | | |
| 1 | Geçkinli,A.E. 1989; " Metalografi ", İTÜ Matbaası, İstanbul. | | | 2 | Rossiter B. 1991; Microscopy, Second Edition. | | | |
| Ölçme Yöntemi | | Yöntem | Hafta | Tarih | Süre (Saat) | Katkı (%) | | Arasınav | 8 | 13/04/2018 | 2 | 30 | | Sunum | 12 | 20/07/2018 | 1 | 10 | | Ödev | 13 | 27/05/2018 | 2 | 10 | | Dönem sonu sınavı | 16 | 16/06/2018 | 2 | 50 | | |
| Öğrenci Çalışma Yükü | | İşlem adı | Haftalık süre (saat) | Hafta sayısı | Dönem toplamı | | Yüz yüze eğitim | 3 | 14 | 42 | | Arasınav için hazırlık | 3 | 8 | 24 | | Arasınav | 1 | 2 | 2 | | Ödev | 4 | 2 | 8 | | Dönem sonu sınavı için hazırlık | 8 | 3 | 24 | | Dönem sonu sınavı | 1 | 2 | 2 | | Toplam Çalışma Yükü | | | 102 |
|