|
|
| MDM2010 | Cevher Karakterizasyonu | 2+0+0 | AKTS:4 | | Yıl / Yarıyıl | Bahar Dönemi | | Ders Duzeyi | Lisans | | Yazılım Şekli | Seçmeli | | Bölümü | MADEN MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ | | Ön Koşul | Yok | | Eğitim Sistemi | Yüz yüze | | Dersin Süresi | 14 hafta - haftada 2 saat teorik | | Öğretim Üyesi | Prof. Dr. Oktay CELEP | | Diğer Öğretim Üyesi | - | | Öğretim Dili | Türkçe | | Staj | Yok | | | | Dersin Amacı: | | Dersin amacı kayaç ve kayaç yapıcı minerallerin tanımlanabilmesi için uygulanması gereken analiz tekniklerini ve bu tekniklerin cevher örneklerine uygulandıktan sonra öğrencilerin yorum yapabilme yeteneklerinin gelişmesini sağlamak. |
| Öğrenim Kazanımları | BPKK | ÖY | | Bu dersi başarı ile tamamlayan öğrenciler : | | | | ÖK - 1 : | örnek hazırlamada kullanılan proses ve ekipmanların temel prensiplerini kavrayacaklar | 5,9 | | | ÖK - 2 : | cevher hazırlama ve hidrometalurjik süreçler için proses mineralojisinin önemini tartışabilecekler | 5,9 | | | ÖK - 3 : | optik mikroskop, elektron mikroskop, XRD, XRF, DTA ve TGA gibi yöntemler hakkında bilgi sahibi araştırmalarında bu yöntemleri kullanabilecekler | 5,9 | | | ÖK - 4 : | seçilmiş bir cevher için akım şeması geliştirebilecekler | 5,9 | | | BPKK :Bölüm program kazanımlarına katkı, ÖY : Ölçme ve değerlendirme yöntemi (1: Yazılı Sınav, 2: Sözlü Sınav, 3: Ev Ödevi, 4: Laboratuvar Çalışması/Sınavı, 5: Seminer / Sunum, 6: Dönem Ödevi / Proje),ÖK : Öğrenim Kazanımı | | |
| Cevher zenginleştirme ve hidrometalurjik süreçlerde proses mineralojisinin önemi. Minerallerin tanınmasında kullanılan XRD, XRF, SEM, DTA ve TGA gibi analiz teknikleri ve elde edilen sonuçların yorumlanması. |
| |
| Haftalık Detaylı Ders İçeriği | | Hafta | Detaylı İçerik | Önerilen Kaynak | | Hafta 1 | Genel bilgiler, dersin amacı ve içeriği, kaynak kitaplar, haftalık raporlar, dönem ödevi ve notların takdimi
| | | Hafta 2 | Proses mineralojisi ve mineral yüzey analizlerinin cevher zenginleştirmedeki önemi | | | Hafta 3 | Numune hazırlama ve kayaç içerisindeki minerallerin tanımlanması | | | Hafta 4 | Steoroscopic microskop | | | Hafta 5 | Petrografik mikroskop | | | Hafta 6 | Cevher mikroskopu | | | Hafta 7 | İnce kesit ve parlatılmış kesitlerin hazırlanması | | | Hafta 8 | Arasınav | | | Hafta 9 | X-ray difraksiyon tekniği | | | Hafta 10 | Mineral yüzey analiz teknikleri (XPS, ATR, FTIR, NMR, ESR, AES, SAM, AFM, SIMS, LIMS) | | | Hafta 11 | Scanning elektron mikroskopu (SEM-EDX) | | | Hafta 12 | Kimyasal analiz teknikleri | | | Hafta 13 | Sonuçların değerlendirilmesi ve raporlanması | | | Hafta 14 | Evaluation of reports
| | | Hafta 15 | Evaluation of reports
| | | Hafta 16 | Dönem sonu sınavı
| | | |
| Ölçme Yöntemi | | Yöntem | Hafta | Tarih | Süre (Saat) | Katkı (%) | | Arasınav | 8 | | | 50 | | Dönem sonu sınavı | 16 | | | 50 | | |
| Öğrenci Çalışma Yükü | | İşlem adı | Haftalık süre (saat) | Hafta sayısı | Dönem toplamı | | Yüz yüze eğitim | 3 | 14 | 42 | | Sınıf dışı çalışma | 5 | 14 | 70 | | Arasınav için hazırlık | 4 | 3 | 12 | | Arasınav | 2 | 1 | 2 | | Dönem sonu sınavı için hazırlık | 3 | 3 | 9 | | Dönem sonu sınavı | 2 | 1 | 2 | | Toplam Çalışma Yükü | | | 137 |
|